| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Стемницкий, В.В. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-12-01T08:24:14Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-20T08:38:32Z | - |
| dc.date.available | 2015-12-01T08:24:14Z | |
| dc.date.available | 2017-07-20T08:38:32Z | - |
| dc.date.issued | 2004 | - |
| dc.identifier.citation | Стемницкий, В. В. Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов: автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / В. В. Стемницкий; науч. рук. В. В. Николаев. - Мн.: БГУИР, 2004. - 21 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5114 | - |
| dc.description.abstract | Целью работы является разработка методов, алгоритмов и программного обеспечения для статистического анализа и оптимизации технологии ИМС, в том числе для проектирования в сети Интернет. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | статистический анализ | ru_RU |
| dc.subject | технологические параметры ИМС | ru_RU |
| dc.subject | планирование эксперимента | ru_RU |
| dc.subject | аппроксимация | ru_RU |
| dc.subject | оптимизация | ru_RU |
| dc.subject | проектирование на технологичность | ru_RU |
| dc.title | Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов | ru_RU |
| dc.title.alternative | Statistical analysis and optimization of integrated circuit technology using response surface methodology | ru_RU |
| dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
| local.description.annotation | The aim of the work is the development of methods, algorithms and software for statistical analysis and optimization of integrated circuit (IC) technology including design via Internet. | - |
| Appears in Collections: | 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
|
