Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5232
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorНерейко, А. И.-
dc.date.accessioned2015-12-10T09:04:39Z
dc.date.accessioned2017-07-20T08:02:27Z-
dc.date.available2015-12-10T09:04:39Z
dc.date.available2017-07-20T08:02:27Z-
dc.date.issued2000-
dc.identifier.citationНерейко, А. И. Влияние слабых магнитных полей на свойства границы кремний-оксид кремния: автореф. дисс. ... кандидата физико-математических наук :05.27.01/ А. И. Нерейко; науч. рук. В. Е. Борисенко. - Мн.: БГУИР, 2000. - 16 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5232-
dc.description.abstractРазработан принцип и система автоматизированного контроля параметров МДП структур при воздействии слабых магнитных полей (СМП), приводящего к долговременным изменениям их параметров с применением алгоритма согласованного выборочного анализа.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавтореферат диссертацийru_RU
dc.subjectграница разделаru_RU
dc.subjectоксид кремнияru_RU
dc.subjectслабое магнитное полеru_RU
dc.subjectinterfaceru_RU
dc.subjectsilicon oxideru_RU
dc.subjectlow magnetic fieldru_RU
dc.subjectcharge transportru_RU
dc.titleВлияние слабых магнитных полей на свойства границы кремний-оксид кремнияru_RU
dc.title.alternativeLow magnetic fields influence on the properties of silicon silicone-oxide interfaceru_RU
dc.typeAbstract of the thesisru_RU
local.description.annotationProposed is a principle and system of automated control of parameters of metal- insulator- semiconductor (MIS) structures exposed to low magnetic fields (LMF) which causes long-term variation of their parameters; the algorithm of the consistent sampling analysis is proposed-
Appears in Collections:05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Нарейко.pdf1.42 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.