| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Тюшев, Т. А. | - |
| dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2023-08-30T07:22:54Z | - |
| dc.date.available | 2023-08-30T07:22:54Z | - |
| dc.date.issued | 2023 | - |
| dc.identifier.citation | Тюшев, Т. А. Программное средство моделирования связанных неисправностей на основе неисправностей взаимного влияния = Software tool for simulation of linked faults based on coupling faults / Т. А. Тюшев, Д. В. Деменковец // Компьютерные системы и сети : сборник статей 59-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 17–21 апреля 2023 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2023. – С. 205–209. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/52655 | - |
| dc.description.abstract | В данной работе рассматривается архитектура симулятора неисправностей запоминающих устройств,
ориентированного на неисправности взаимного влияния трёх и более ячеек памяти. Описывается модель и нотация связанной неисправности, состоящей из трех ячеек. Представлен алгоритм генерации неисправностей и внесения их в модель памяти. Описывается программное средство, моделирующее процесс тестирования модели памяти с помощью маршевых тестов. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | запоминающие устройства | en_US |
| dc.subject | неисправности взаимного влияния | en_US |
| dc.subject | программные средства | en_US |
| dc.title | Программное средство моделирования связанных неисправностей на основе неисправностей взаимного влияния | en_US |
| dc.title.alternative | Software tool for simulation of linked faults based on coupling faults | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | This paper discusses the architecture of the memory faults simulator focused on coupling faults of three or more memory cells. Memory faults model and notation for their description are described. The algorithm for generating faults and inserting them to the memory model is presented. A software that simulates the process of testing the memory model using march tests is described. | en_US |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 59-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2023)
|
