DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
dc.date.accessioned | 2016-01-06T08:27:55Z | - |
dc.date.accessioned | 2017-07-20T08:21:51Z | - |
dc.date.available | 2016-01-06T08:27:55Z | - |
dc.date.available | 2017-07-20T08:21:51Z | - |
dc.date.issued | 2013 | - |
dc.identifier.citation | Пискун Г. А. Методики контроля функциональных и эксплуатационных характеристик микроконтроллеров после воздействия электростатических разрядов : автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Г. А. Пискун ; науч. рук. В. Ф. Алексеев. – Минск : БГУИР, 2013. – 21 с. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5412 | - |
dc.description.abstract | Цель работы: исследование воздействия разрядов статического электричества на интегральные схемы (на примере микроконтроллеров с инсталлированным во встроенную флеш-память массивом данных). | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
dc.subject | электростатические разряды | ru_RU |
dc.subject | микроконтроллеры | ru_RU |
dc.subject | electrostatic discharge | ru_RU |
dc.subject | microcontroller | ru_RU |
dc.title | Методики контроля функциональных и эксплуатационных характеристик микроконтроллеров после воздействия электростатических разрядов | ru_RU |
dc.title.alternative | Methods of control of functional and operational characteristics of microcontrollers after exposure of electrostatic discharge | ru_RU |
dc.type | Abstract of the thesis | ru_RU |
local.description.annotation | Objective: study the impact of static electricity on integrated circuits (e.g. microcontrollers with array of data installed on the builtin flash memory) | - |
Appears in Collections: | 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
|