Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/56747
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorАхметзянов, Г. Д.-
dc.coverage.spatialМинскen_US
dc.date.accessioned2024-07-30T08:30:16Z-
dc.date.available2024-07-30T08:30:16Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.citationАхметзянов, Г. Д. Анализ методов получения тонких пленок ионным распылением = Analysis of methods for producing thin films by ion sputtering / Г. Д. Ахметзянов // Электронные системы и технологии : сборник материалов 60-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 22–26 апреля 2024 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2024. – С. 215–217.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/56747-
dc.description.abstractПредставлен анализ основных методов ионного распыления для получения тонких пленок, рассмотрены их преимущества и недостатки.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherБГУИРen_US
dc.subjectматериалы конференцийen_US
dc.subjectионное распылениеen_US
dc.subjectтонкие пленкиen_US
dc.titleАнализ методов получения тонких пленок ионным распылениемen_US
dc.title.alternativeAnalysis of methods for producing thin films by ion sputteringen_US
dc.typeArticleen_US
local.description.annotationAn analysis of the main methods of ion sputtering for producing thin films is presented, their advantages and disadvantages are considered.-
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 60-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2024)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Ahmenzyanov_Analiz_metodov.pdf696.59 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.