Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/57070
Title: Лавинный пробой в транзисторах: теория и применение на примере качера Бровина
Other Titles: Avalanche breakdown in transistors: theory and application on the example of Brovin's Kacher
Authors: Биюмен, Е. А.
Войткус, И. А.
Keywords: материалы конференций;транзисторы;лавинный пробой;блокирующие генераторы
Issue Date: 2024
Publisher: БГУИР
Citation: Биюмен, Е. А. Лавинный пробой в транзисторах: теория и применение на примере качера Бровина = Avalanche breakdown in transistors: theory and application on the example of Brovin's Kacher / Е. А. Биюмен, И. А. Войткус // Компьютерные системы и сети : сборник статей 60-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2024 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2024. – С. 193–196.
Abstract: В статье рассматривается явление лавинного пробоя в транзисторах, включая его теоретические основы и практическое применение на примере качера Бровина. Качер Бровина — это блокинг-генератор, использующий лавинный пробой для генерации высокочастотных колебаний. В статье описана схема качера Бровина, принцип его работы, а также процесс сборки. Представлены результаты работы качера, демонстрирующие его способность генерировать высокое напряжение. Кроме того, обсуждаются перспективы изучения лавинного пробоя и его применения в различных полупроводниковых приборах.
Alternative abstract: The paper deals with the phenomenon of avalanche breakdown in transistors, including its theoretical basis and practical application on the example of Brovin's kacher. Brovin's kacher is a blocking generator that uses avalanche breakdown to generate highfrequency oscillations. The paper describes the schematic of the Brovin's kacher, the principle of its operation, and the assembly process. Results of the swing generator are presented, demonstrating its ability to generate high voltages. In addition, the prospects of studying avalanche breakdown and its application in various semiconductor devices are discussed.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/57070
Appears in Collections:Компьютерные системы и сети : материалы 60-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2024)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Biyumen_Lavinnye.pdf411.38 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.