Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58486
Title: Способ контроля теплового сопротивления "кристалл-корпус" транзисторов при контроле их качества
Other Titles: Патент BY 24452, МПК G01R 31/26 (2020.01), G01N 25/18 (2006.01)
Authors: Казючиц, В. О.
Боровиков, С. М.
Шнейдеров, Е. Н.
Жданович, В. П.
Keywords: патенты;полупроводниковая электроника;биполярные транзисторы;тепловые процессы
Issue Date: 2024
Publisher: Национальный центр интеллектуальной собственности
Citation: Патент BY 24452, МПК G01R 31/26 (2020.01), G01N 25/18 (2006.01). Способ контроля теплового сопротивления "кристалл-корпус" транзисторов при контроле их качества : № a 20220125 ; заявлено 12.05.2022 ; опубликовано 05.12.2024 / Казючиц В. О., Боровиков С. М., Шнейдеров Е. Н., Жданович В. П. ; заявитель Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники". – 6 с.
Abstract: Изобретение относится к контролю качества элементов полупроводниковой электроники путем определения их тепловых параметров и относится к контролю теплового сопротивления "кристалл-корпус" у полевых и биполярных транзисторов.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58486
Appears in Collections:Изобретения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Pat_24452.pdf385.75 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.