| Title: | Компьютерная программа для получения модели прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов по значениям их информативных параметров |
| Other Titles: | Computer program for obtaining a model for predicting the reliability of semiconductor devices based on the values of their informative parameters |
| Authors: | Грачёва, А. А. |
| Keywords: | материалы конференций;полупроводниковые приборы;обучающий эксперимент;модели прогнозирования |
| Issue Date: | 2025 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Грачёва, А. А. Компьютерная программа для получения модели прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов по значениям их информативных параметров = Computer program for obtaining a model for predicting the reliability of semiconductor devices based on the values of their informative parameters / А. А. Грачёва // Электронные системы и технологии : сборник материалов 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 21–25 апреля 2025 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2025. – С. 102–104. |
| Abstract: | Разработана учебная компьютерная программа для получения по
результатам выполненного обучающего эксперимента модели прогнозирования
класса надёжности полупроводниковых приборов интересующего типа для заданного
времени работы. Модель получают методом пороговой логики, позволяющим
представить её в виде логической таблицы, что исключает необходимость выполнения
математических расчётов перед принятием решения о классе надёжности
экземпляров, не участвовавших в обучающем эксперименте, по значениям их
информативных параметров. Выполняется только измерение информативных
параметров, преобразование их в двоичный или троичный код, используя заранее
полученные пороги, и определение по логической таблице класса надёжности
прогнозируемого экземпляра. Компьютерная программа написана на языке
программирования JavaScript, её можно запускать как обычную программу в ОС
Windows. |
| Alternative abstract: | A computer program has been developed to obtain, based on the results of a training
experiment, a model for predicting the reliability class of semiconductor devices of the type of
interest for a given operating time. The model is obtained using the threshold logic method,
which allows it to be presented as a logical table, which eliminates the need to perform
mathematical calculations before making a decision on the reliability class of samples that did
not participate in the training experiment, based on the values of their informative parameters.
Only the informative parameters are measured, converted into binary or ternary code using
previously obtained thresholds, and determined by the logical table of the reliability class of the
predicted sample. The computer program is written in the JavaScript programming language, it
can be launched as a regular program in Windows OS. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59992 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 61-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2025)
|
