Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/60330
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДеменковец, Д. В.-
dc.date.accessioned2025-06-19T06:05:11Z-
dc.date.available2025-06-19T06:05:11Z-
dc.date.issued2025-
dc.identifier.citationДеменковец, Д. В. Модели неисправностей взаимного влияния оперативных запоминающих устройств / Д. В. Деменковец // Компьютерные системы и сети : материалы 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2025 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2025. – C. 608–609.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/60330-
dc.description.abstractВ работе представлены описания математических моделей неисправностей взаимного влияния ОЗУ в которой учувствуют две ячейки памяти. Также описывается характерное поведение ячеек памяти при данных неисправностях.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherБГУИРen_US
dc.subjectматериалы конференцийen_US
dc.subjectматематических моделиen_US
dc.subjectзапоминающие устройстваen_US
dc.subjectполупроводниковая памятьen_US
dc.subjectвычислительные системыen_US
dc.titleМодели неисправностей взаимного влияния оперативных запоминающих устройствen_US
dc.typeArticleen_US
Appears in Collections:Компьютерные системы и сети : материалы 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2025)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Demenkovec_Modeli.pdf923.73 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.