DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
dc.date.accessioned | 2025-06-19T06:05:11Z | - |
dc.date.available | 2025-06-19T06:05:11Z | - |
dc.date.issued | 2025 | - |
dc.identifier.citation | Деменковец, Д. В. Модели неисправностей взаимного влияния оперативных запоминающих устройств / Д. В. Деменковец // Компьютерные системы и сети : материалы 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2025 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2025. – C. 608–609. | en_US |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/60330 | - |
dc.description.abstract | В работе представлены описания математических моделей неисправностей взаимного влияния ОЗУ в которой учувствуют две
ячейки памяти. Также описывается характерное поведение ячеек памяти при данных неисправностях. | en_US |
dc.language.iso | ru | en_US |
dc.publisher | БГУИР | en_US |
dc.subject | материалы конференций | en_US |
dc.subject | математических модели | en_US |
dc.subject | запоминающие устройства | en_US |
dc.subject | полупроводниковая память | en_US |
dc.subject | вычислительные системы | en_US |
dc.title | Модели неисправностей взаимного влияния оперативных запоминающих устройств | en_US |
dc.type | Article | en_US |
Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2025)
|