https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6172| Title: | Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента |
| Authors: | Шнейдеров, Е. Н. |
| Keywords: | материалы конференций;параметрическая надёжность;транзисторы Дарлингтона КТ8225;полевые транзисторы КП723;интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН |
| Issue Date: | 2014 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Шнейдеров, Е. Н. Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента / Е. Н. Шнейдеров // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХII Белорусско-российской научно-технической конференции, 28–29 мая 2014 г., Минск. – Минск : БГУИР, 2014. — С. 52 - 53. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6172 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2014 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Shneyderov_Polucheniye.PDF | 395.8 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.