| DC Field | Value | Language |
| dc.contributor.author | Винник, М. А. | - |
| dc.contributor.author | Кривец, К. А. | - |
| dc.contributor.author | Ловшенко, И. Ю. | - |
| dc.contributor.author | Новиков, П. Э. | - |
| dc.contributor.author | Корсак, К. В. | - |
| dc.contributor.author | Степанов, А. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2025-12-02T06:11:50Z | - |
| dc.date.available | 2025-12-02T06:11:50Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier.citation | Математическое моделирование влияния параметров материалов металлизации на эксплуатационные характеристики элементов цифровых интегральных схем / М. А. Винник, К. А. Кривец, И. Ю. Ловшенко [и др.] // Информационные технологии и системы 2025 (ИТС 2025) : материалы международной научной конференции, Минск, 19 ноября 2025 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск, 2025. – С. 165–166. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/62234 | - |
| dc.description.abstract | В работе исследуется влияние выбора материалов металлизации на надёжность ячеек статической
памяти. В качестве ключевого параметра используется статический запас по шуму (SNM). Проведён
сравнительный анализ SNM для семи приборных структур с различными материалами металлизации: медь,
алюминий, вольфрам, никель, кобальт, золото и серебро. Установлено, что медь обеспечивает наивысшее
значение SNM (0,289 В), что подтверждает её статус оптимального материала для современных
интегральных схем. Результаты работы подчёркивают важность учёта параметров материала при проектировании цифровых микросхем с повышенной надежностью. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | современные интегральные схемы | en_US |
| dc.subject | проектирование цифровых микросхем | en_US |
| dc.title | Математическое моделирование влияния параметров материалов металлизации на эксплуатационные характеристики элементов цифровых интегральных схем | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| Appears in Collections: | ИТС 2025
|