Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64577
Title: Применение методов машинного обучения для оптимизации процессов литографии в микроэлектронике
Other Titles: Application of machine learning methods for optimizing lithography processes in microelectronics
Authors: Шульга, А. А.
Keywords: материалы конференций;фотолитографии;вычислительная литография;машинное обучение;нейронные сети;микроэлектроника
Issue Date: 2026
Publisher: БГУИР
Citation: Шульга, А. А. Применение методов машинного обучения для оптимизации процессов литографии в микроэлектронике = Application of machine learning methods for optimizing lithography processes in microelectronics / А. А. Шульга // Электронные системы и технологии : сборник материалов 62-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 13–17 апреля 2026 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: П. В. Камлач [и др.]. – Минск, 2026. – С. 300–301.
Abstract: Фотолитография – один из ключевых этапов производства микросхем. Когда размеры элементов становятся меньше, начинают сильнее сказываться оптические искажения, и без вычислительной литографии уже не обойтись. В статье разбирается, как методы машинного обучения помогают настраивать параметры литографического процесса.
Alternative abstract: Photolithography is one of the key stages in microchip production. As elements become smaller, optical distortions begin to have a greater impact, and computational lithography becomes indispensable. This article examines how machine learning methods help to adjust the parameters of the lithography process.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/64577
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 62-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2026)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
SHulga_Primenenie.pdf278.25 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.