Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/66004
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБелый, Г. В.-
dc.contributor.authorЛопато, У. П.-
dc.contributor.authorБондаренко, В. П.-
dc.contributor.authorГревцов, Н. Л.-
dc.contributor.authorЧубенко, Е. Б.-
dc.contributor.authorЛабунов, В. А.-
dc.date.accessioned2026-10-30T06:08:44Z-
dc.date.available2026-10-30T06:08:44Z-
dc.date.issued2026-
dc.identifier.citationФормирование диэлектрического материала на основе окисленного пористого кремния и оксида титана для интегральных оптических волноводов = Formation of a dielectric material derived from oxidized porous silicon and titanium oxide for integrated optical waveguides / Г. В. Белый, У. П. Лопато, В. П. Бондаренко, Н. Л. Гревцов, Е. Б. Чубенко [и др.] // Журнал прикладной спектроскопии. – 2026. – Т. 93, № 4. – С. 548–555.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/66004-
dc.description.abstractПродемонстрирована возможность формирования диэлектрического материала на основе окисленного пористого кремния и оксида титана путем осаждения последнего в пористый кремний золь-гель методом и последующего высокотемпературного окисления. Полученный в результате реализации предложенной методики диэлектрический материал характеризуется увеличенным показателем преломления, что делает его перспективным для создания интегральных оптических канальных волноводов с низкими потерями в объемных микросборках электронных схем с оптическими соединениями.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.subjectпубликации ученыхen_US
dc.subjectпоказатели преломленияen_US
dc.subjectоптические волноводыen_US
dc.subjectдиэлектрические материалыen_US
dc.titleФормирование диэлектрического материала на основе окисленного пористого кремния и оксида титана для интегральных оптических волноводовen_US
dc.title.alternativeFormation of a dielectric material derived from oxidized porous silicon and titanium oxide for integrated optical waveguidesen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.DOI10.1007/s10812-026-02154-6-
local.description.annotationThe feasibility of forming a dielectric material based on oxidized porous silicon and titanium oxide by depositing the latter onto porous silicon using the sol-gel method and subsequent high-temperature oxidation is demonstrated. The resulting dielectric material is characterized by an increased refractive index, making it promising for the creation of low-loss integrated optical channel waveguides in bulk microassemblies of elec- tronic circuits with optical interconnects.en_US
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Belyj_Formirovanie.pdf978.97 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.