Разработать методы и алгоритмы неразрушающего тестирования  и контроля встроенных запоминающих устройств  цифровых измерительно-управляющих систем: отчет о НИР (заключ.)

Иванюк, А. А.; Степанов, А. В.; Ярмолик, В. Н.; Ярмолик, С. В.; Мусин, С. Б.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/7748

Title:	Разработать методы и алгоритмы неразрушающего тестирования и контроля встроенных запоминающих устройств цифровых измерительно-управляющих систем: отчет о НИР (заключ.)
Authors:	Иванюк, А. А. Степанов, А. В. Ярмолик, В. Н. Ярмолик, С. В. Мусин, С. Б.
Keywords:	отчеты о НИР;надежность;тестирование;встроенные запоминающие устройства;неразрушающее тестирование;оперативный контроль
Issue Date:	2013
Publisher:	БГУИР
Citation:	Разработать методы и алгоритмы неразрушающего тестирования и контроля встроенных запоминающих устройств цифровых измерительно-управляющих систем(заключительный) : отчет о НИР / БГУИР; научный руководитель А. А. Иванюк ; отв. исполнитель А. В. Степанов . – Минск, 2013. – 95 с. - № ГР 20120385
Series/Report no.:	ГБЦ № 11-7010;
Abstract:	Результаты проведенных исследований могут быть применены при производстве современных встроенных запоминающих устройств. Кроме того, они могут быть использованы в мобильных системах критического приложения, таких как навигационные системы транспортных средств, системы контроля и управления технологическими процессами, системы мониторинга и портативных цифровых устройствах, а также в бытовой технике и аппаратуре широкого применения.
Gov't Doc #:	№ ГР 20120385
URI:	https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/7748
Appears in Collections:	Отчеты о НИР 2013

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
№ ГР 20120385 (11-7010)_Рук_НИР_Иванюк.pdf Restricted Access		2.06 MB	Adobe PDF	View/Open Request a copy

Show full item record Google Scholar