Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/8045
Title: Анализ применимости и эффективности международных аттестационных тестов
Authors: Каптур, О. А.
Оразмухамедов, К. Д.
Ганджунц, А. В.
Keywords: материалы конференций;международные аттестационные тесты;PISA;TIMSS;PIRLS
Issue Date: 2014
Publisher: БГУИР
Citation: Каптур, О. А. Анализ применимости и эффективности международных аттестационных тестов / О. А. Каптур, К. Д. Оразмухамедов, А. В. Ганджунц // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : сборник материалов 50-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 24–28 марта 2014 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: М. П. Батура [и др.]. – Минск, 2014. – С. 36–37.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/8045
Appears in Collections:Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 50-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2014)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Анализ применимости.PDF769.59 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.