| Title: | Виды отказов активных элементов интегральных схем |
| Authors: | Бужинский, А. Д. |
| Keywords: | материалы конференций;активные элементы;интегральные схемы;полупроводниковые интегральные схемы |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Бужинский, А. Д. Виды отказов активных элементов интегральных схем / А. Д. Бужинский // Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных средств : сборник материалов 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 6–10 мая 2013 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Боднарь И. В. [и др.]. – Минск, 2013. – С. 228–229. |
| Abstract: | Ранние отказы активных элементов (АЭ), имеющие место в первые несколько сотен часов работы, вызваны, как
правило, дефектами в окисле (проколами), вследствие которых образовались паразитные диффузионные области или
короткое замыкание металлизации с кремнием, загрязнениями окисла, вызывающими повышенные токи утечки р-п-
переходов |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9230 |
| Appears in Collections: | Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2013)
|
