Skip navigation

Browsing by Subject микроструктура

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 11 of 11
Issue DateTitleAuthor(s)
2017Анализ воздействия ускоряющих факторов на старение характеристик LED излучателейГурский, А. Л.; Машедо, Н. В.
2019Закономерности формирования тонких металлических пленок на стекле при ионно-ассистированном осажденииТашлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Бушкевич, И. А.; Гагуа, Д. Р.; Цаль, А. С.
2017Изучение наноразмерных особенностей микроструктуры поверхности быстрозатвердевших сплавов Al-Cr методом сканирующей зондовой микроскопииТашлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Бушкевич, И. А.
2014Интегрированные пленочные системы в твердотельных структурах диоидов ШотткиСолодуха, В. А.; Баранов, В. В.; Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Сарычев, О. Э.; Соловьев, Я. А.; Турцевич, А. С.; Фоменко, Н. К.
2018Модификация структуры поверхности сплавов Al-Fe высоко- и гиперскоростной кристаллизациейТашлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.
2017Синтез пленок системы Al – Cr/стекло методом ионно-ассистированного осаждения в условиях самооблучения и исследование их свойствТашлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Бушкевич, И. А.; Бобрович, О. Г.
2018Термическая стабильность микроструктуры быстрозатвердевшего сплава Al-Mg-Li-Sc-ZrБушкевич, И. А.; Бородын, А. В.; Фишкина, Ю. Э.; Ташлыкова-Бушкевич, И. И.
2019Термостойкие наноструктурированные матрицы из анодного оксида алюминияЛушпа, Н. В.
2002Фазо-структурные особенности, электрофизические и сорбционные свойства пленок snox, полученных термическим окислением оловаЗарапин, В. Г.
2019Цифровая обработка изображений наноразмерных элементов на наноструктурированной поверхности материалов с помощью программы ImageJДинь, Х. Т.; Лушпа, Н. В.; Чернякова, Е. В.; Врублевский, И. А.
2019Эволюция микроструктуры тонких пленок сплава Al-1.0 ат. % Cr при ионно-ассистированном осаждении на стеклоТашлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Мойсейчик, Е. С.; Бейда, А. И.