Skip navigation

Browsing by Subject integrated circuit

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 9 of 9
Issue DateTitleAuthor(s)
2012The brain is a nanoelectronic objectAbramov, I. I.
2016Влияние теплового режима на надежность и параметры полупроводниковых и интегральных схем приборовАтаев, А.
2018Воздействие разрядов статического электричества на полупроводниковые структуры и интегральные схемыАлексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Лисовский, А. А.
2018Модели прогнозирования надежности интегральных схем с учетом воздействия электростатического разрядаАлексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Лисовский, А. А.; Константинов, А. А.
2015Нечеткая нейронная сеть для анализа топологии интегральных микросхемДудкин, А. А.
2015Нечеткая нейронная сеть для анализа топологии интегральных микросхемДудкин, А. А.
2015Нечеткая нейронная сеть для идентификации объектов на изображениях топологических слоев интегральных микросхемДудкин, А. А.
2020Повышение информативности изображений слоев полупроводниковых микросхемИнютин, А. В.; Марушко, Е. Е.
2022Формирование функционального слоя интегральной микросхемы реактивно-ионным травлениемЕмельянов, В. В.