https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10131| Title: | Об экспериментальном подтверждении времени хранения информации интегральных микросхем EEPROM после отключения питания |
| Authors: | Плебанович, В. И. Боровиков, С. М. Будник, А. В. |
| Keywords: | материалы конференции;EEPROM;МОП-транзистор;интегральные микросхемы |
| Issue Date: | 2016 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Плебанович, В. И. Об экспериментальном подтверждении времени хранения информации интегральных микросхем EEPROM после отключения питания / В. И. Плебанович, С. М. Боровиков, А. В. Будник // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХIV Белорусско-российской научно-технической конференции, Минск 25–26 мая 2016 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2016. – С. 67–68. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10131 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2016 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Plebanovich_Ob.PDF | 681.94 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.