https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10940| Title: | Анализ и обработка СЭМ изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ |
| Authors: | Чернякова, К. В. Карпич, Р. Врублевский, И. А. |
| Keywords: | публикации ученых;анализ изображений;анодный оксид алюминия;наноразмерные поры;ImageJ |
| Issue Date: | 2016 |
| Publisher: | ГГУ им.Ф.Скорины |
| Citation: | Чернякова, К. В. Анализ и обработка СЭМ изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ / К. В. Чернякова, Р. Карпич, И. А. Врублевский // IV Международная научная конференция «Проблемы взаимодействия излучения с веществом», посвященная 90-летию со дня рождения Б.В. Бокутя, 9–11 ноября 2016 г. : [материалы] в 2 частях. Ч. 2 / редкол. : С.А.Хахомов (гл. ред.) [и др.]. – Гомель : ГГУ им.Ф.Скорины, 2016. – С. 181 – 186. |
| Abstract: | Показано, что программа ImageJ для анализа микроизображений является подходящим инструментом для количественного анализа морфологии поверхности пленок анодного оксида алюминия с наноразмерными порами. Результаты обработки в программе ImageJ позволили рассчитать значение среднего диаметра пор пленок анодного оксида алюминия, полученного в водном растворе щавелевой кислоты. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10940 |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.