Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11232
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorShimanovich, D. L.-
dc.contributor.authorSokol, V. A.-
dc.date.accessioned2017-01-06T09:52:54Z-
dc.date.accessioned2017-07-27T11:59:43Z-
dc.date.available2017-01-06T09:52:54Z-
dc.date.available2017-07-27T11:59:43Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationShimanovich, D. L. Analysis of internal mechanical stresses in aluminum layers evaporated on dielectric surfaces / D. L. Shimanovich, V. A. Sokol // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения : материалы Международной научно-технической конференции «INTERMATIC-2016», Москва, 21–25 ноября 2016 г. : в 2 ч. Ч. 2. – Москва, 2016. – С. 185–187.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11232-
dc.language.isoenru_RU
dc.publisherГаллея-Принтru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.titleAnalysis of internal mechanical stresses in aluminum layers evaporated on dielectric surfacesru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Analysis.pdf851.16 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.