Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11232
Title: Analysis of internal mechanical stresses in aluminum layers evaporated on dielectric surfaces
Authors: Shimanovich, D. L.
Sokol, V. A.
Keywords: публикации ученых
Issue Date: 2016
Publisher: Галлея-Принт
Citation: Shimanovich, D. L. Analysis of internal mechanical stresses in aluminum layers evaporated on dielectric surfaces / D. L. Shimanovich, V. A. Sokol // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения : материалы Международной научно-технической конференции «INTERMATIC-2016», Москва, 21–25 ноября 2016 г. : в 2 ч. Ч. 2. – Москва, 2016. – С. 185–187.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11232
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Analysis.pdf851.16 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.