https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12301| Title: | Ускоренные испытания интегральных схем как способ прогнозирования долговечности средств медицинской электроники |
| Authors: | Алексеев, В. Ф. Пискун, Г. А. Богатко, И. Н. |
| Keywords: | материалы конференций;УИ;интегральная схема |
| Issue Date: | 2014 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Алексеев, В. Ф. Ускоренные испытания интегральных схем как способ прогнозирования долговечности средств медицинской электроники / В. Ф. Алексеев, Г. А. Пискун, И. Н. Богатко // Медэлектроника – 2014. Средства медицинской электроники и новые медицинские технологии : сборник научных статей VIII Международная научно-техническая конференция (Минск, 10 – 11 декабря 2014 г.). – Минск : БГУИР, 2014. – С. 165 |
| Abstract: | It is shown that for predicting the durability of integrated circuits means medical electronics necessary to use an expedited trial. The order of prediction of durability of integrated circuits based on the results of accelerated tests. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12301 |
| Appears in Collections: | Медэлектроника - 2014 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Alekseyev_Uskorennyye.PDF | 486.41 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.