Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12944
Title: Двухуровневое тестирование случайных последовательностей длиной 128 и 256 битт
Other Titles: Two-level testing of 128-bit and 256-bit random sequences
Authors: Киевец, Н. Г.
Корзун, А. И.
Keywords: доклады БГУИР;двухуровневое тестирование;случайная последовательность;теоретическое распределение;two-level testing;random sequence;theoretical distribution
Issue Date: 2017
Publisher: БГУИР
Citation: Киевец, Н. Г. Двухуровневое тестирование случайных последовательностей длиной 128 и 256 битт / Н. Г. Киевец, А. И. Корзун // Доклады БГУИР. - 2017. - № 3 (105). - С. 78 - 84.
Abstract: Найдены теоретические распределения вероятностей превышения тестовыми статистиками значений, получаемых при тестировании случайных последовательностей длиной 128 и 256 бит по тесту на самые длинные подпоследовательности единиц в блоках. Приведены результаты двухуровневого тестирования случайных последовательностей, выработанных генераторами электронных пластиковых Карт.
metadata.local.description.annotation: The theoretical distributions of probability of exceeding the test statistics values for test for the longest run of ones in a block corresponded to random 128-bit and 256-bit sequences were found. The results of two-level testing of random sequences produced by electronic plastic card random number generators were presented.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/12944
Appears in Collections:№3 (105)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kiyevets_Dvukhurovnevoye.PDF666.48 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.