Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13151
Title: Быстродействующие алгоритмы детектирования дефектов при автоматическом контроле структур СБИС
Authors: Титко, Е. А.
Keywords: материалы конференций;детектирование дефектов;структуры СБИС
Issue Date: 2017
Publisher: БГУИР
Citation: Титко, Е. А. Быстродействующие алгоритмы детектирования дефектов при автоматическом контроле структур СБИС / Е. А. Титко // Компьютерные системы и сети : материалы 53-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 2–6 мая 2017 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2017. – С. 153–155.
Abstract: Представлены быстродействующие алгоритмы детектирования дефектов, которые основаны на объектно-ориентированном подходе анализа дефектов с минимальной логической сложностью и расширением структурных данных о топологии при незначительном изменении аппаратного обеспечения.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13151
Appears in Collections:Компьютерные системы и сети : материалы 53-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2017)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Titko_Bystrodeystvuyushchiye.PDF585.68 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.