https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13165| Title: | Методика оценки устойчивости микроконтроллеров к воздействию разрядов статического электричества при ступенчатом повышении напряжения |
| Authors: | Пискун, Г. А. Алексеев, В. Ф. |
| Keywords: | публикации ученых;микроконтроллер;разряды статического электричества;методы контактного разряда;методы испытания |
| Issue Date: | 2012 |
| Publisher: | Рязанский государственный радиотехнический университет |
| Citation: | Пискун, Г. А. Методика оценки устойчивости микроконтроллеров к воздействию разрядов статического электричества при ступенчатом повышении напряжения / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев // Вестник Рязанского государственного радиотехнического университета. – 2012. – № 40. – С. 34–40. |
| Abstract: | Экспериментально исследовано воздействие разрядов статического электричества на 8-ми битные микроконтроллеры типа AT89C51RC с 32-мя Кб flash-памяти. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,4 кВ, приведет к повреждению 94 % информации, инсталлированной во flash-память, а 6,5 кВ приведет к катастрофическому повреждению микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13165 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Piskun_Metodika.pdf | 642.52 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.