https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1569| Title: | Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем |
| Other Titles: | Radiation resistance simulation of logical CMOS integrated circuits elements |
| Authors: | Лазарь, А. П. Коршунов, Ф. П. |
| Keywords: | доклады БГУИР;n- и p-канальные МОП транзисторы;элементы КМОП интегральных микросхем;SPICE-параметры;гамма излучение;вольтамперные характеристики |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Лазарь, А. П. Моделирование радиационной стойкости элементов логических КМОП интегральных микросхем = Radiation resistance simulation of logical CMOS integrated circuits elements / А. П. Лазарь, Ф. П. Коршунов // Доклады БГУИР. – 2013. – № 5 (75). – С. 17–23. |
| Abstract: | Приведено описание программного комплекса для моделирования радиационной стойкости n- и p-канальных металл-окисел-полупроводник (МОП) транзисторов – элементов комплементарных МОП интегральных микросхем. Программное обеспечение предназначено для визуализации и анализа результатов измерений вольтамперных характеристик транзисторов, экстракции SPICE-параметров и последующего моделирования их эволюции в зависимости от дозы ионизирующего излучения. Исследовано радиационное поведение МОП транзисторов – элементов микросхем 1554ЛН1 – в поле ионизирующего излучения Со60. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1569 |
| Appears in Collections: | №5 (75) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Lazar_Modelirovaniye.PDF | 816.01 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.