Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1591
Title: Калибровка системы, предназначенной для контроля проводников на подложке микросхемы
Other Titles: Calibration of the system used for conductor inspection at microchip substrate
Authors: Губчик, И. Н.
Keywords: доклады БГУИР;калибровка камеры;точность калибровки;трехмерная сцена
Issue Date: 2013
Publisher: БГУИР
Citation: Губчик, И. Н. Калибровка системы, предназначенной для контроля проводников на подложке микросхемы / И. Н. Губчик // Доклады БГУИР. - 2013. - № 6 (76). - С. 92 - 97.
Abstract: Описывается методика калибровки фотометрической системы для решения конкретной задачи оценки положения проводника, соединяющего полупроводниковую микросхему с подложкой. Строится нелинейная модель дисторсии объектива камеры, позволяющая оценить положение проводника в трехмерном пространстве с заданной точностью. Новизна описанной методики заключается в обеспечении поставленной точности измерений параметров проводника с высокой скоростью обработки.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1591
Appears in Collections:№6 (76)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Gubchik_Kalibrovka.PDF532.31 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.