Please use this identifier to cite or link to this item:
https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1595
| Title: | Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий |
| Other Titles: | Forecasting method of individual phasing of electronic products by simulation impacts |
| Authors: | Боровиков, С. М. |
| Keywords: | доклады БГУИР;изделия электронной техники;биполярные транзисторы;метод имитационных воздействий;индивидуальное прогнозирование значений параметра;прогнозирование постепенных отказов |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Боровиков, С. М. Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий = Forecasting method of individual phasing of electronic products by simulation impacts / С. М. Боровиков // Доклады БГУИР. – 2013. – № 6 (76). – С. 12–18. |
| Abstract: | Систематизирован метод имитационных воздействий в применении к индивидуальному прогнозированию постепенных отказов изделий электронной техники. На основе метода разработана методика прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов. Она позволяет по реакции функционального параметра конкретного экземпляра (транзистора) на имитационное воздействие в начальный момент времени спрогнозировать значение параметра для заданной будущей наработки и принять решение о надежности этого экземпляра по постепенному отказу для этой наработки. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1595 |
| Appears in Collections: | №6 (76)
|
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
