Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1595
Title: Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий
Other Titles: Forecasting method of individual phasing of electronic products by simulation impacts
Authors: Боровиков, С. М.
Keywords: доклады БГУИР;изделия электронной техники;биполярные транзисторы;метод имитационных воздействий;индивидуальное прогнозирование значений параметра;прогнозирование постепенных отказов
Issue Date: 2013
Publisher: БГУИР
Citation: Боровиков, С. М. Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий / С. М. Боровиков // Доклады БГУИР. - 2013. - № 6 (76). - С. 12 - 18.
Abstract: Систематизирован метод имитационных воздействий в применении к индивидуальному прогнозированию постепенных отказов изделий электронной техники. На основе метода разработана методика прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов. Она позволяет по реакции функционального параметра конкретного экземпляра (транзистора) на имитационное воздействие в начальный момент времени спрогнозировать значение параметра для заданной будущей наработки и принять решение о надежности этого экземпляра по постепенному отказу для этой наработки.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1595
Appears in Collections:№6 (76)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Borovikov_Metodika.PDF696.18 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.