Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1960
Title: Радиационные эффекты в элементах субмикронных КМОП интегральных схем
Other Titles: Radiation еffects in elements of submicron CMOS integrated circuits
Authors: Коршунов, Ф. П.
Богатырев, Ю. В.
Белоус, А. И.
Шведов, С. В.
Малышев, В. С.
Ластовский, С. Б.
Карась, В. И.
Гуринович, В. А.
Keywords: доклады БГУИР
МОП-структуры
n- и р-канальные МОП-транзисторы
элементы КМОП интегральных схем
гамма-излучение
СV-характеристики
вольтамперные характеристики
Issue Date: 2011
Publisher: БГУИР
Citation: Радиационные эффекты в элементах субмикронных КМОП интегральных схем / Ф. П. Коршунов [и др.] // Доклады БГУИР. - 2011. - № 4 (58). - С. 43 - 48.
Abstract: Рассмотрено влияние гамма-излучения Со60 на параметры тестовых металл-окисел- полупроводник (МОП)-структур, а также n- и р-канальных МОП-транзисторов (МОПТ): элементов субмикронных (0,35 мкм) КМОП интегральных схем. Установлено, что при облучении происходит значительный сдвиг и уменьшение наклона СV-характеристик тестовых МОП-конденсаторов с толстым окислом (dox = 0,52 мкм); СV-характеристики МОП- структур с dox = 7 нм при облучении дозой D = 104 Гр практически не изменились. Сток- затворные вольтамперные характеристики (ВАХ) n-МОПТ «классической» конструкции при облучении изменились более значительно по токам утечки, чем ВАХ n-МОПТ «кольцевой» конструкции. ВАХ «классических» р-МОПТ при облучении изменились за счет небольшого сдвига в сторону отрицательных напряжений затвора, однако токи утечки р- МОПТ возросли незначительно. Обнаружена корреляция токов утечки «классических» n- МОПТ и токов через паразитный n-МОПТ при облучении в пассивном и активном электрическом режиме.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1960
Appears in Collections:№4 (58)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Korshunov_Radiatsionnyye.PDF473,02 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.