Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27857
Title: Оценка паяемости электронных компонентов и деталей в электронике
Authors: Ланин, В. Л.
Keywords: публикации ученых;паяемость;электронные компоненты;детали;электроника
Issue Date: 2008
Publisher: ООО «Медиа КиТ» Санкт-Петербург
Citation: Ланин, В. Л. Оценка паяемости электронных компонентов и деталей в электронике / В. Л. Ланин // Компоненты и технологии. – 2008. – № 2. – С. 150 – 154.
Abstract: Проблема обеспечения качественных паяных соединений при сборке и монтаже изделий электроники обращает внимание на использование эффективных методов контроля паяемости электронных компонентов и функциональных покрытий деталей. Методы должны обеспечивать наименьшее время контроля, высокую достоверность, возможности автоматизации контроля и анализа результатов.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27857
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Lanin_Otsenka.pdf400.69 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.