https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28818| Title: | Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т |
| Authors: | Троицкий, В. Ю. Орешков, М. В. Захарченко, А. А. Трепалин, А. П. Петлицкая, Т. В. Филипеня, В. А. |
| Keywords: | публикации ученых;анализ брака;локализация дефектов |
| Issue Date: | 2016 |
| Publisher: | Российская академия наук |
| Citation: | Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т / В. Ю. Троицкий и др. // Труды научно-исследовательского института системных исследований российской академии наук. – 2016г. – №2(6). – С.88 – 95. |
| Abstract: | Разработана и успешно опробована методика поэтапного исследования физико-технологических причин неработоспособности кристаллов интегральной микросхемы (ИМС) Ethernet контроллера 1990ВГ3Т с применением неразрушающих и разрушающих методов: - локализации дефектов по результатам функционального тестирования и регистрации фотоэмиссии, - послойного удаления слоёв металлизации, - нанозондирования электрофизических характеристик транзисторных структур, - исследования локализованной области на ионно-электронном микроскопе. Получены важные результаты, раскрывающие технологическую причину неработоспособности ИМС. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28818 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Troitskiy_Analiz.pdf | 1.7 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.