Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28818
Title: Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т
Authors: Троицкий, В. Ю.
Орешков, М. В.
Захарченко, А. А.
Трепалин, А. П.
Петлицкая, Т. В.
Филипеня, В. А.
Keywords: публикации ученых
анализ брака
локализация дефектов
Issue Date: 2016
Publisher: Российская академия наук, Москва, РФ
Citation: Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т / В. Ю. Троицкий и др. // Труды научно-исследовательского института системных исследований российской академии наук. – 2016г. – №2(6). – С.88 – 95.
Abstract: Разработана и успешно опробована методика поэтапного исследования физико-технологических причин неработоспособности кристаллов интегральной микросхемы (ИМС) Ethernet контроллера 1990ВГ3Т с применением неразрушающих и разрушающих методов: - локализации дефектов по результатам функционального тестирования и регистрации фотоэмиссии, - послойного удаления слоёв металлизации, - нанозондирования электрофизических характеристик транзисторных структур, - исследования локализованной области на ионно-электронном микроскопе. Получены важные результаты, раскрывающие технологическую причину неработоспособности ИМС.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28818
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Troitskiy_Analiz.pdf1.7 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.