Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28818
Название: Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т
Авторы: Троицкий, В. Ю.
Орешков, М. В.
Захарченко, А. А.
Трепалин, А. П.
Петлицкая, Т. В.
Филипеня, В. А.
Ключевые слова: публикации ученых;анализ брака;локализация дефектов
Дата публикации: 2016
Издательство: Российская академия наук
Описание: Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т / В. Ю. Троицкий и др. // Труды научно-исследовательского института системных исследований российской академии наук. – 2016г. – №2(6). – С.88 – 95.
Аннотация: Разработана и успешно опробована методика поэтапного исследования физико-технологических причин неработоспособности кристаллов интегральной микросхемы (ИМС) Ethernet контроллера 1990ВГ3Т с применением неразрушающих и разрушающих методов: - локализации дефектов по результатам функционального тестирования и регистрации фотоэмиссии, - послойного удаления слоёв металлизации, - нанозондирования электрофизических характеристик транзисторных структур, - исследования локализованной области на ионно-электронном микроскопе. Получены важные результаты, раскрывающие технологическую причину неработоспособности ИМС.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28818
Располагается в коллекциях:Публикации в зарубежных изданиях

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Troitskiy_Analiz.pdf1.7 MBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.