https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28950| Title: | Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ |
| Authors: | Ярмолик, В. Н. Мрозек, И. Леванцевич, В. А. |
| Keywords: | публикации ученых;динамические оперативные запоминающие устройства;маршевый тест;псевдоисчерпывающий тест |
| Issue Date: | 2017 |
| Publisher: | ОИПИ НАН Беларуси |
| Citation: | Ярмолик, В. Н. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2017. – №2(54). – С. 58 – 69. |
| Abstract: | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдо-исчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28950 |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Yarmolik_Psevdoischerpyvayushcheye.pdf | 164.16 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.