Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30307
Title: Диагностика интегральных микросхем методом послойного анализа
Authors: Петровский, Е. В.
Keywords: авторефераты диссертаций;интегральные микросхемы;послойный анализ
Issue Date: 2018
Publisher: БГУИР
Citation: Петровский, Е. В. Диагностика интегральных микросхем методом послойного анализа : автореф. дисс. ... магистра техники и технологии : 1-39 81 01 / Е. В. Петровский ; науч. рук. Т. В. Петлицкая. - Минск : БГУИР, 2018 . - 16 с.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30307
Appears in Collections:1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
m_avt_Petrovskii.pdf641.56 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.