| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Лещенко, В. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-02-11T13:12:13Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T08:27:05Z | - |
| dc.date.available | 2015-02-11T13:12:13Z | |
| dc.date.available | 2017-07-19T08:27:05Z | - |
| dc.date.issued | 2012 | - |
| dc.identifier.citation | Лещенко, В. В. JTAG-тестирование и JTAG-тестопригодное проектирование встроенных систем / В. В. Лещенко // Информационные технологии и системы 2012 (ИТС 2012) : материалы международной научной конференции, БГУИР, Минск, Беларусь, 24 октября 2012 г. = Information Technologies and Systems 2012 (ITS 2012) : Proceeding of The International Conference, BSUIR, Minsk, 24th October 2012 / редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск : БГУИР, 2012. – C. 194–195. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-488-926-9 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3063 | - |
| dc.description.abstract | В рамках данной статьи приводиться
краткий обзор технологий, поддерживаемых стандартом IEEE1149.x – JTAG, изложены основные понятия, приводятся примеры использования данной технологии. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | JTAG-тестирование | ru_RU |
| dc.subject | контроль качества | ru_RU |
| dc.subject | программирование | ru_RU |
| dc.subject | внутрисхемное тестирование (In-Circuit Test, ICT) | ru_RU |
| dc.subject | тестопригодного проектирования (Design-for-Testability, DFT) | ru_RU |
| dc.title | JTAG-тестирование и JTAG-тестопригодное проектирование встроенных систем | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ИТС 2012
|
