https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30735
Название: | Scanning probe microscopy as a comprehensive microanalytical instrumentary |
Авторы: | Sergeev, O. V. Gaponenko, N. V. Lazareva, N. G. Cramer, R. M. Heiderhoff, R. Borisenko, V. E. Balk, L. J. |
Ключевые слова: | доклады БГУИР;microscopy;optoelectronics;sol-gel structures |
Дата публикации: | 2004 |
Издательство: | БГУИР |
Описание: | Scanning probe microscopy as a comprehensive microanalytical instrumentary / O. V. Sergeev and others // Доклады БГУИР. - 2004. - № 3 (7). - С. 85 - 94. |
Аннотация: | This review briefly presents some results of collaborative work on new methods of microanalysis and nanolithography based on scanning probe microscopy and obtained during long-term coopera- tion between Center of Nanoelectronics and Novel Materials of Belarusian State University of In- formatics (Belarus) and Radioelectronics and Bergische Universitдt Wuppertal (Germany). |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30735 |
Располагается в коллекциях: | №3 (7) |
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Sergeev_Scanning.pdf | 1.44 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.