https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30922| Title: | Использование температуры в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов полупроводниковых приборов |
| Other Titles: | Using temperature as imitation factor in forecasting gradual failures of semiconductor devices |
| Authors: | Боровиков, С. М. Бересневич, А. И. |
| Keywords: | доклады БГУИР;полупроводниковые приборы;постепенные отказы;имитационный фактор;статистическая аналогия;прогнозирование |
| Issue Date: | 2005 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Боровиков, С. М. Использование температуры в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов полупроводниковых приборов / С. М. Боровиков, А. И. Бересневич // Доклады БГУИР. - 2005. - № 3 (11). - С. 78 - 82. |
| Abstract: | В данной работе с помощью экспериментальных исследований биполярных транзисторов для функционального параметра (коэффициента усиления тока базы в схеме с общим эмит- тером) установлено наличие линейной корреляции между изменениями, вызываемыми дей- ствием температуры как имитационного фактора, и изменениями, обусловленными дли- тельной наработкой транзисторов. Наличие тесной корреляции (модуль коэффициента кор- реляции более 0,8) является доказательством возможности использования температуры в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов полупровод- никовых приборов методом имитационных воздействий. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30922 |
| Appears in Collections: | №3 (11) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Baravikou_Using.pdf | 325.57 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.