https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30941| Title: | Симметричное неразрушающее тестирование ОЗУ |
| Other Titles: | Symmetric transparent memory testing |
| Authors: | Занкович, А. П. Ярмолик, В. Н. |
| Keywords: | доклады БГУИР;неразрушающее тестирование ОЗУ;маршевые тесты;условия скрытия и проявления ошибок;симметричное тестирование |
| Issue Date: | 2005 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Занкович, А. П. Симметричное неразрушающее тестирование ОЗУ / А. П. Занкович, В. Н. Ярмолик // Доклады БГУИР. - 2005. - № 3 (11). - С. 65 - 70. |
| Abstract: | В статье представлены локально-симметричные методы периодического неразрушающего тестирования схем ОЗУ. Приведена оценка эффективности использования предлагаемых методов в сравнении с существующими методами Николаидиса и глобально- симметричными методами. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30941 |
| Appears in Collections: | №3 (11) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Zankovich_Symmetric.pdf | 383.52 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.