Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31790
Название: The Impact of ESD on Microcontrollers
Авторы: Piskun, G. A.
Alexeev, V. F.
Avakov, S. M.
Matyushkov, V. E.
Titko, D. S.
Алексеев, В. Ф.
Пискун, Г. А.
Аваков, С. М.
Матюшков, В. Е.
Титко, Д. С.
Ключевые слова: публикации ученых
монография
Microcontrollers
Дата публикации: 2018
Издательство: Kolorgrad, Минск, Беларусь
Библиографическое описание: The Impact of ESD on Microcontrollers / G. A. Piskun and others ; edited by PhD, Aassociate professor V. E. Alexeev. - Minsk : Kolorgrad, 2018. - 184 p.
Краткий осмотр (реферат): M odern m ethods and means of testing the stability of microcontrollers to the effects of electrostatic discharges are considered. The analysis of functional and operational characteristics of microcontrollers with a program code written in the built-in flash memory is performed. A damage mechanisms classifi­ cation to m icrocontrollers after the influence of electrostatic discharge and the possibility of developing new algorithms for technical diagnostics of microcontrollers are proposed. O n the basis of thermal processes analysis occurring in current-carrying elements of integrated cir­ cuits, the dependence of temperature, electric field strength and power of electromagnetic losses in each element and in their contact areas is shown, depending on the electrostatic discharge voltage. It is shown that electrostatic discharge affects change in programmed data in microcontrollers. The m ethod of functional control of microcontrollers, after exposure to static electricity discharges, developed by the authors is described; this m ethod makes it possible to improve the result of culling of potentially unreliable products by obtaining information about possible violations in the built-in flash memory of microcircuits. The monograph is intended for scientists, engineers, graduate students and undergraduates working in the field of integrated circuits reliability assessment. It can be used by senior courses students of rele­ vant specialties.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31790
ISSN: 978-985-7148-40-0
Располагается в коллекциях:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
The Impact of ESD on Microcontrollers.pdf7,26 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.