https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31907| Title: | Электромиграционные процессы в межсоединениях интегральных микросхем |
| Authors: | Черных, А. Г. Шульгов, В. В. |
| Keywords: | материалы конференций;интегральные микросхемы;информационная безопасность |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Черных, А. Г. Электромиграционные процессы в межсоединениях интегральных микросхем / А. Г. Черных, В. В. Шульгов // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVI Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 5 июня 2018 г. – Минск: БГУИР, 2017. – С. 97. |
| Abstract: | Информационная безопасность требует совершенствования элементной базы микроэлектронных устройств защиты информации. По мере уменьшения размеров и совершенствования структуры микроэлектронных устройств возрастает роль многоуровневой системы межсоединений интегральных микросхем (ИМС) и основным ограничительным фактором в системе межсоединений является электромиграционная стойкость. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31907 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2018 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Chernykh_Elektromigratsionnyye.pdf | 194.09 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.