Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32774
Title: Стандартные методы измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов
Authors: Моковский, В. А.
Горчанин, Д. И.
Володин, И. А.
Keywords: материалы конференций;тепловое сопротивление;полупроводниковые приборы
Issue Date: 2018
Publisher: БГУИР
Citation: Моковский, В. А. Стандартные методы измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов / В. А. Моковский, Д. И. Горчанин, И. А. Володин // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем: сборник тезисов 54 научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23–27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; отв. ред. Раднёнок А. Л. – Минск, 2018. – С. 81 - 83.
Abstract: Несмотря на постоянное повышение энергетической эффективности современной электроники, другой важной тенденцией ее развития является уменьшение габаритов изделий. Происходит как уменьшение размеров всех составляющих электронных компонентов, так и внедрение новых технологий более плотного их монтажа. Это приводит к увеличению плотности потоков тепло, повышению локальной и средней температуры. Указанные обстоятельства заставляют более углубленно заниматься изучением методов измерения теплового сопротивления в полупроводниковых приборах.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32774
Appears in Collections:Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Mokovskiy_Standartnyye.pdf480.98 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.