Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32828
Title: Оценка надежности полупроводниковых приборов
Authors: Вилюха, Ю. Е.
Keywords: материалы конференций;полупроводниковые приборы;оценка надежности
Issue Date: 2018
Publisher: БГУИР
Citation: Вилюха, Ю. Е. Оценка надежности полупроводниковых приборов / Ю. Е. Вилюха // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем: сборник тезисов 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23–27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; отв. ред. Раднёнок А. Л. – Минск, 2018. – С. 44.
Abstract: В работе рассматривается подход к оценке надёжности полупроводниковых приборов на основе использования результатов ускоренных испытаний.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32828
Appears in Collections:Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Vilyukha_Otsenka.pdf575.06 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.