https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33247| Title: | Псевдо-исчерпывающие тестирование запоминающих устройств на базе многократных многократных маршевых тестов |
| Authors: | Ярмолик, В. Н. Мрозек, И. Леванцевич, В. А. |
| Keywords: | публикации ученых;маршевые тесты;псевдо-исчерпывающие тесты;задача собирателя купонов |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | ОИПИ Национальной академии наук Белруси |
| Citation: | Ярмолик, В. Н. Псевдо-исчерпывающие тестирование запоминающих устройств на базе многократных многократных маршевых тестов / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2018. – Т. 15, №1. – С. 110 – 121. |
| Abstract: | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. Показывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тесто в запоминающих устройств с изменяемым начальным состоянием сводится к комбинаторной задаче собирателя купонов. Приводятся оценки средней, минимальной и максимальной кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек запоминающего устройства. Экспериментально показывается справедливость аналитических оценок и подтверждается возможность псевдо-исчерпывающего тестирования запоминающих устройств. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33247 |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Yarmolik_Psevdo.PDF | 590.83 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.