https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3365| Title: | Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ |
| Authors: | Степанов, А. В. Иванюк, А. А. |
| Keywords: | материалы конференций;оперативные запоминающие устройства;неисправности интерфейсных линий;VHDL;тестирование цифровых устройств;встроенные ОЗУ;ОЗУ |
| Issue Date: | 2011 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Степанов, А. В. Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ / А. В. Степанов, А. А. Иванюк // Информационные технологии и системы 2011 (ИТС 2011) : материалы международной научной конференции, БГУИР, Минск, Беларусь, 26 октября 2011 г. = Information Technologies and Systems 2011 (ITS 2011) : Proceeding of The International Conference, BSUIR, Minsk, 26th October 2011 / редкол.: Л. Ю. Шилин [и другие]. – Минск : БГУИР, 2011. – C. 284-285. |
| Abstract: | В данной работе предложена методика обнаружения функциональных неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ, которая позволит выполнять тестирование цифрового устройства на наличие физических дефектов проводящих линий в процессе его эксплуатации по назначению. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3365 |
| ISBN: | 978-985-488-816-3 |
| Appears in Collections: | ИТС 2011 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Stepanov_Metodika.PDF | 421.23 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.