Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34333
Title: Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки
Authors: Солодуха, В. А.
Шведов, С. В.
Ковальчук, Н. С.
Чигирь, Г. Г.
Петлицкий, А. Н.
Keywords: публикации ученых
материалы конференций
подзатворный диэлектрик
пробивное напряжение
надежность
Issue Date: 2018
Publisher: Издательский центр «Политехпериодика», Украина
Citation: Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки / В. А. Солодуха [и др.] // Современные информационные и электронные технологии: сборник трудов 19-ой Международной научно-практической конференции (СИЭТ-2018), Одесса, 28 мая - 01 июня 2018 г. - Одесса, 2018. - С. 81 - 82.
Abstract: Предложена модель оценки показателей надежности подзатворных диэлектриков по результатам испытаний тестовых МДП-структур путем подачи на затвор ступенчато-нарастающего напряжения до фиксации момента пробоя структуры при разных скоростях развертки. На основе модели реализован экспрессный контроль для оперативного выявления потенциально ненадежной продукции и поддержания серийного производства интегральных микросхем на требуемом уровне.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34333
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Solodukha_Ekspressniy.pdf220,53 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.