https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34333| Title: | Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки |
| Authors: | Солодуха, В. А. Шведов, С. В. Ковальчук, Н. С. Чигирь, Г. Г. Петлицкий, А. Н. |
| Keywords: | публикации ученых;материалы конференций;подзатворные диэлектрики;пробивное напряжение;интегральные микросхемы |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | Издательский центр «Политехпериодика» |
| Citation: | Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки / В. А. Солодуха [и др.] // Современные информационные и электронные технологии : сборник трудов 19-ой Международной научно-практической конференции (СИЭТ-2018), Одесса, 28 мая – 01 июня 2018 г. – Одесса, 2018. – С. 81–82. |
| Abstract: | Предложена модель оценки показателей надежности подзатворных диэлектриков по результатам испытаний тестовых МДП-структур путем подачи на затвор ступенчато-нарастающего напряжения до фиксации момента пробоя структуры при разных скоростях развертки. На основе модели реализован экспрессный контроль для оперативного выявления потенциально ненадежной продукции и поддержания серийного производства интегральных микросхем на требуемом уровне. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34333 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Solodukha_Ekspressniy.pdf | 220.53 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.