Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34334
Название: Оперативный анализ загрязнений кремниевых пластин рекомбинационно-активными примесями в производстве интегральных микросхем
Авторы: Солодуха, В. А.
Шведов, С. В.
Чигирь, Г. Г.
Петлицкий, А. Н.
Пилипенко, В. А.
Ковальчук, Н. С.
Петлицкая, Т. В.
Филипеня, В. А.
Солодуха, В. А.
Ключевые слова: публикации ученых;материалы конференций;кремниевая пластина;рекомбинационно-активные примеси;токи утечки
Дата публикации: 2018
Издательство: Издательский центр «Политехпериодика»
Описание: Оперативный анализ загрязнений кремниевых пластин рекомбинационно-активными примесями в производстве интегральных микросхем / В. А. Солодуха [и др.] // Современные информационные и электронные технологии: сборник трудов 19-ой Международной научно-практической конференции (СИЭТ-2018), Одесса, 28 мая - 01 июня 2018 г. - Одесса, 2018. - С. 83 - 84.
Аннотация: Предложен доступный, оперативный анализ наличия загрязнений кремниевых пластин рекомбинационно-активными примесями по измерению величины токов утечки обратносмещенных р-п переходов. Установлены критерии забракования по допустимым уровням загрязнения. Для проведения анализа не требуется дорогостоящее специализированное оборудование (масспектрометры). Анализ эффективен при проведении оперативной аттестации оборудования для проведения высокотемпературных операций.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34334
Располагается в коллекциях:Публикации в зарубежных изданиях

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Solodukha_Operativnyy.pdf269.55 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.