Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34554
Title: Восприимчивость полупроводниковых приборов и интегральных микросхем к воздействию ВЧ и СЧВ помех
Authors: Шлома, С. Л.
Keywords: авторефераты диссертаций;полупроводниковые приборы;интегральные микросхемы
Issue Date: 2019
Publisher: БГУИР
Citation: Шлома, С. Л. Восприимчивость полупроводниковых приборов и интегральных микросхем к воздействию ВЧ и СЧВ помех : автореф. дисс. ... магистра технических наук : 1-39 80 02 / С. Л. Шлома ; науч. рук. Н. А. Титович. - Минск : БГУИР, 2019. - 8 с.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34554
Appears in Collections:1-39 80 02 Радиотехника, в том числе системы и устройства радионавигации, радиолокации и телевидения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Shloma_Vospriimchivost.pdf204.94 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.