https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34610| Title: | Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники |
| Authors: | Ланин, В. Л. Волкенштейн, С. С. Хмыль, А. А. |
| Keywords: | публикации ученых;неразрушающий контроль;диагностика;скрытые дефекты;изделия электроники |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | ООО «Медиа КиТ» |
| Citation: | Ланин, В. Л. Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / В. Л. Ланин, С. С. Волкенштейн, А. А. Хмыль // Компоненты и технологии. – 2010. - № 2. – С. 137–142. |
| Abstract: | Проблема обеспечения качества и надежности изделий электро-ники нацеливает на использова-ние эффективных методов кон-троля и диагностики скрытых дефектов, которые должны обеспечивать высокую информативность, достоверность и автоматизацию анализа результатов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34610 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Lanin_Metody.pdf | 574.87 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.