https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34615| Title: | Дефекты паяных соединений при монтаже внешних выводов транзисторов в силовых модулях |
| Authors: | Ланин, В. Л. Керенцев, А. Ф. |
| Keywords: | публикации ученых;паяные соединения;дефекты;внешние выводы;транзисторы;силовые электронные модули |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | ООО «Медиа КиТ» |
| Citation: | Ланин, В. Л. Дефекты паяных соединений при монтаже внешних выводов транзисторов в силовых модулях / В. Л. Ланин, А. Ф. Керенцев // Технологии в электронной промышленности. – 2010. - № 3. – С. 58–63. |
| Abstract: | Исследованы причины возникновения дефектов при пайке внешних выводов мощных транзисторов в пластмассовых и металлокерамических корпусах в силовых электронных модулях. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34615 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Lanin_Defekty.pdf | 144.48 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.